Optimization of a 65 nm CMOS imaging process for monolithic CMOS sensors for high energy physics
W. Snoeys*, G. Aglieri Rinella, A. Andronic, M. Antonelli, R. Baccomi, R. Ballabriga Sune,
M. Barbero, P. Barrillon, J. Baudot, P. Becht, F. Benotto, S. Beolé, G. Bertolone, A. Besson, W. Bialas, G. Borghello, J. Braach, M.D. Buckland, S. Bugiel, E. Buschmann, P. Camerini, M. Campbell, F. Carnesecchi, L. Cecconi, E. Charbon, A. Chauhan, C. Colledani, G. Contin, D. Dannheim, K. Dort, J.P. de Melo, W. Deng, G. De Robertis, A. Di Mauro, A. Dorda Martin, A. Dorokhov, P. Dorosz, G. Eberwein, Z. El Bitar, X. Fang, A. Fenigstein, C. Ferrero, D. Fougeron, D. Gajanana, M. Goffe, L. Gonella, A. Grelli, V. Gromov, A. Habib, A. Haim, K. Hansen, J. Hasenbichler, H. Hillemanns, G.H. Hong, C. Hu, A. Isakov, K. Jaaskelainen, A. Junique, A. Kotliarov, I. Kremastiotis, F. Krizek, A. Kluge, R. Kluit, G. Kucharska, T. Kugathasan, Y. Kwon, P. La Rocca, L. Lautner, P.V. Leitao, B.H. Lim, F. Loddo, M. Mager, D. Marras, P. Martinengo, S. Masciocchi, S. Mathew, M.W. Menzel, F. Morel, B. Mulyanto, M. Münker, L. Musa, M. Nakamura, P. Pangaud, S. Perciballi, H. Pham, F. Piro, F. Prino, S. Rachevski, K. Rebane, C. Reckleben, F. Reidt, R. Ricci, R. Russo, I. Sanna, V. Sarritzu, U. Savino, D. Schledewitz, I. Sedgwick, H.K. Soltveit, S. Senyukov, J. Sonneveld, J. Soudier, J. Stachel, M. Suzuki, P. Svihra, M. Suljic, N. Takahashi, G. Termo, N. Tiltmann, E. Toledano, A. Triffiro, A. Turcato, G. Usai, I. Valin, A. Villani, J.B. Van Beelen, M.D. Vassilev, C. Vernieri, A. Vitkovskiy, Y. Wu, A. Yelkenci and A. Yuncuet al. (click to show)
Pre-published on:
March 13, 2023
Published on:
May 08, 2023